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CS310M電化學(xué)工作站

CS310M電化學(xué)工作站

產(chǎn)品型號:

所屬分類:電化學(xué)工作站

更新時間:2024-09-09

簡要描述:全浮地式設(shè)計,具有出色的穩(wěn)定性和精確度,性價比高,具備所有基礎(chǔ)電化學(xué)以及阻抗測試功能。
● 新增IR補償功能、恒流阻抗測試技術(shù)
● 包含基礎(chǔ)功能和阻抗模塊,滿足大部分研究領(lǐng)域
● 全浮地模式,性價比高
● 電壓控制范圍:±10V,槽壓為±21V(可選30V)
● 電流控制范圍:±2A(可擴展至20A/40A/100A)
● 電位分辨率:1μV,電流分辨率:1pA(可選100fA)

詳細說明:

產(chǎn)品介紹
      CS電化學(xué)工作站采用全浮地式設(shè)計,具有出色的穩(wěn)定性和精確度,先進的硬件和功能完善的軟件,為涉及能源、材料、生命科學(xué)、環(huán)保等領(lǐng)域的科技工作者提供了優(yōu)秀的科研平臺。  
 
     應(yīng)用
   (1)能源材料(鋰離子電池、太陽能電池、燃料動力電池和超級電容器等)、先進功能材料以及傳感器的性能研究;
   (2)電化學(xué)分析研究;
   (3)電合成、電沉積(電鍍)、陽極氧化、電解等反應(yīng)機理研究;
     (4)金屬材料的腐蝕行為研究與耐蝕性評價;
   (5)緩蝕劑、水質(zhì)穩(wěn)定劑、涂層以及陰極保護效率的快速評價。

    
硬件特點
    ● 雙通道相關(guān)分析器和雙通道高速16bit /高精度24bit AD轉(zhuǎn)換器
    ● 內(nèi)置FRA頻響分析儀,頻率范圍 10μHz ~1MHz
    ● 高帶寬高輸入阻抗的放大器

    ● 內(nèi)置FPGA DDS信號合成器
    ● 高功率恒電位儀/恒電流儀/零電阻電流計
    ● 電壓控制范圍:±10V,槽壓為±21V(可選30V)
    ● 電流控制范圍:±2A (可擴展至20A/40A/100A)
    ● 電位分辨率:1μV,電流分辨率:1pA(可選100fA)
             
             
    軟件特點
       ① 數(shù)據(jù)分析
       伏安曲線的平滑、積分和微分運算,計算各氧化還原峰的峰電流、峰電位和峰面積等;
       極化曲線的三參數(shù)或四參數(shù)動力學(xué)解析,計算Tafel斜率ba,bc,腐蝕電流密度icorr,極限擴散電流、極化電阻Rp和腐蝕速率等,還可由電化學(xué)噪聲譜計算功率譜密度、噪聲電阻Rn和譜噪聲電阻Rsn(f)。
       ② 實時存儲
       CS Studio實時存儲測量數(shù)據(jù),即使因斷電導(dǎo)致測試中斷,中斷之前的數(shù)據(jù)也會自動保存。
       ③ 定時測量
       CS Studio測試軟件具有定時測量功能, 對于某些需要研究體系隨時間變化特征時,可提前設(shè)好測試參數(shù)與間隔時間,讓儀器在無人值守下自動定時測量,為實驗提供方便。
 
    技術(shù)優(yōu)勢
       ① 交流阻抗
      儀器采用相關(guān)積分算法和雙通道同步過采樣技術(shù),具有較強的抗干擾能力,尤其適合于涂層、混凝土等高阻體系(>109Ω)的交流阻抗測量,也可用于Mott-Schottky 曲線和微分電容曲線繪制。軟件能實時顯示開路電位,用戶無需輸入,即可輸出準確的極化過電位。
      具有恒流阻抗測試功能,尤其適合于18650、軟包電池等超低阻儲能器件的交流阻抗測量。
       ② 極化曲線
      具有線性極化和Tafel極化曲線測量功能,用戶可設(shè)定循環(huán)極化曲線的陽極回掃電流(鈍化膜擊穿電流),來確定材料的點蝕電位和保護電位,評價晶間腐蝕敏感性。軟件采用非線性擬合算法解析極化曲線,可用于材料耐蝕性和緩蝕劑性能的快速評價。
 
6063鋁合金在含Ce3+的3%NaCl溶液中的EIS               鈦基非晶態(tài)合金和不銹鋼在3%NaCl溶液中的極化曲線
 
       ③ 伏安分析
      能完成線性掃描伏安(LSV)、循環(huán)伏安(CV)等電分析方法,集成峰面積、峰電流計算和標準曲線分析功能。
 
   
聚吡咯超級電容器在0.5mol/L H2SO4溶液中的CV曲線            鉑電極在K4[Fe(CN)6] + KCl溶液中的CV曲線     
 
       ④ 電化學(xué)噪聲
      采用高阻跟隨器和零阻電流計測量腐蝕體系自發(fā)的電位與電流波動,可用于點蝕、電偶腐蝕、縫隙腐蝕和應(yīng)力腐蝕開裂 等局部腐蝕研究。通過噪聲譜分析,可評估亞穩(wěn)態(tài)蝕點或裂紋的誘導(dǎo)、生長和死亡過程。基于噪聲電阻和點蝕指數(shù)計算,也可用于局部腐蝕監(jiān)測。
 

低碳鋼在0.05mol/L Cl-+0.1mol/L NaHCO3溶液中的電化學(xué)噪聲
 
       ⑤ 全浮地測量
      CS系列電化學(xué)工作站采用全浮地式工作電極,可用于工作電極本身接地體系的電化學(xué)研究,如用于高壓釜電化學(xué)測試(釜體接地),大地中金屬構(gòu)件(橋梁、混凝土鋼筋)的在線腐蝕研究等。
       ⑥ 正反饋IR補償
      啟動IR補償后,電化學(xué)工作站會增加一個額外模擬反饋路徑,通過測量電解池電流,啟用正反饋補償,硬件電路增加反饋信號,自動對Rs上的壓降進行補償。
       ⑦ 自定義方法
      支持用戶自定義組合測量,用戶可以設(shè)定定時循環(huán)進行某一測試方法或多種方法的組合測試,用于無人值守下的定時自動測量;
      提供API通用接口函數(shù)和開發(fā)實例,方便用戶二次開發(fā)和自定義測試方法;
      提供用戶自定義腳本編寫范例,用于實現(xiàn)您的電化學(xué)實驗技術(shù)。
技術(shù)指標
硬件參數(shù)指標
 恒電位控制范圍:±10V 恒電流控制范圍:±2A
 電位控制精度:0.1% 電流控制精度:0.1%
 電位靈敏度:1μV 電流靈敏度:1pA(可選100fA)
 電位上升時間:1μs 電流量程:2nA~2A 10檔
 參比電極輸入阻抗:1013Ω||8pF 最大輸出電流:±2A(可擴展至20A/40A/100A)
 槽壓輸出:±21V (可選30V) 電流掃描增量:1mA@1A/ms
 CV和LSV掃描速度:0.001mV~10000V/s 電位掃描電位增量:0.076mV @1V/ms
 CA和CC脈沖寬度:0.0001~65000s DPV和NPV脈沖寬度:0.0001~1000s
 SWV頻率:0.001~100KHz CV的最小電位增量:0.020mV
 AD數(shù)據(jù)采集:16bit@1MHz,20bit @1KHz 電流與電位量程:自動設(shè)置
 DA分辨率:16bit,建立時間:1μs 低通濾波器 :8段可編程
 通訊接口:USB2.0、RJ45網(wǎng)口 儀器重量:7.6Kg
 外形尺寸(mm):365(W)*338(D)*140(H)

電化學(xué)阻抗測量指標
 信號發(fā)生器
 頻率響應(yīng):10μHz~1MHz 交流信號幅值:0mV~2500mV
 頻率精確度:0.005% 信號分辨率:0.1mV RMS
 DDS輸出阻抗:50Ω 直流偏壓:-10V~+10V
 正弦波失真率:<1% 波形:正弦波,三角波,方波
 掃描方式:對數(shù)/線性,增加/下降
 信號分析器
 最大積分時間:106個循環(huán)或者105s 測量時間延遲:0~105s
 最小積分時間:10ms或者一個循環(huán)的最長時間
 直流偏置補償
 電位補償范圍:-10V~+10V 電流補償范圍:-1A~+1A
 帶寬調(diào)整:自動或手動設(shè)置, 共8級可調(diào)

儀器配置
1)儀器主機1臺
2)  CS Studio測試與分析軟件1套 
3)模擬電解池1個  
4)電源線/USB數(shù)據(jù)線各1條
5)電極電纜線1條
6)電腦(選配*)
功能方法
CS單通道系列不同型號功能方法比較
功能方法CS300MCS310MCS350M
穩(wěn)態(tài)極化 開路電位(OCP)
 恒電位極化(i-t曲線)
 恒電流極化
 動電位掃描(Tafel曲線)
 動電流掃描(DGP)
 電位掃描-階躍

暫態(tài)極化 任意恒電位階梯波
 任意恒電流階梯波
 恒電位階躍(VSTEP)
 恒電流階躍(ISTEP)
計時分析 計時電位法(CP)
 計時電流法(CA)
 計時電量法(CC)
伏安分析 線性掃描伏安(LSV)
 循環(huán)伏安(CV)
 階梯循環(huán)伏安(SCV)
 方波伏安(SWV)
 差分脈沖伏安(DPV)
 常規(guī)脈沖伏安(NPV)
 差分常規(guī)脈沖伏安(DNPV)
 交流伏安(ACV)
 二次諧波交流伏安(SHACV)
 傅里葉變換交流伏安(FTACV)
電流檢測 差分脈沖電流檢測(DPA)

 雙差分脈沖電流檢測(DDPA)

 三脈沖電流檢測(TPA)

 積分脈沖電流檢測(IPAD)

溶出伏安 電位溶出分析(PSA)
 線性掃描溶出伏安(LSSV)
 階梯溶出伏安(SCSV)
 方波溶出伏安(SWSV)
 差分脈沖溶出伏安(DPSV)
 常規(guī)脈沖溶出伏安(NPSV)
 差分常規(guī)脈沖溶出伏安(DNPSV)
交流阻抗 頻率掃描-電位控制模式(EIS-V)
 頻率掃描-電流控制模式(EIS-I)
 電位掃描(IMPE,Mott-Schotty)
 時間掃描-電位控制模式
 時間掃描-電流控制模式
充放電測試 電池充放電
 恒電流充放電(GCD)
 恒電位充放電
 恒電位間歇滴定技術(shù)(PITT)
 恒電流間歇滴定技術(shù)(GITT)
雙恒測量 氫擴散測試(HDT)
 盤環(huán)電極測試
 法拉第效率測試
擴展測量 電化學(xué)噪聲(EN)
 電偶腐蝕測量(ZRA)
 電化學(xué)溶解/沉積
 控制電位電解庫倫法(BE)
 動電位再活化法(EPR)
 溶液電阻測量
 循環(huán)極化曲線(CPP)
 任意恒電位極化
 腳本化定制測試
注:*氫擴散及旋轉(zhuǎn)盤環(huán)電極測試需配置CS1002恒電位/恒電流儀或采用CS2350M雙恒電位儀。
       *產(chǎn)品3年質(zhì)保。





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